Nichtkontakt-Raster-Kraftmikroskopie: Signal- und Rausch-Analyse in der Frequenzdomäne/Non-contact atomic force microscopy: Signal and noise analysis in the frequency domain [PHY-AFM-S]

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Dozenten

Beschreibung

Weitere Angaben

Ort: 32/372
Zeiten: Di. 08:00 - 10:00 (wöchentlich)
Erster Termin: Dienstag, 05.04.2022 08:00 - 10:00, Ort: 32/372
Veranstaltungsart: Seminar (Offizielle Lehrveranstaltungen)

Studienbereiche

• Physik > Masterstudiengang Physik/Physics > Wahlpflichtbereich